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Test probes for bead probe technology

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Test probes for bead probe technology

Test probes for bead probe technology
In the case of the Agilent bead probe technology, small solder beads are applied directly to the conductors or the vias of the PC-Board. For contacting this technology, two different types of Ingun tip-styles are available and recommended: The tip-style 02 (flat tip for testing PC-Boards free of solder resin or for testing very small beads) and the tip-style 60 (image; fine serrated tip with the spacing of only 0.2 mm – for beads contaminated with surplus solder resin and also for larger beads). The bead probes are compatible to the standard series GKS-050/-075/ -100/-135. Therefore spring-forces, receptacles and tools from these series can be used.

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